FIFI, HERMA JUWITA (2013) ANALISIS PENGARUH FAKTOR-FAKTOR FUNDAMENTAL, EVA DAN MVA TERHADAP RETURN SAHAM PADA PERUSAHAAN MANUFAKTUR TERDAFTAR DI BEI TAHUN 2010. Diploma thesis, UNIVERSITAS ANDALAS.
Text (SKRIPSI)
559.pdf - Published Version Restricted to Repository staff only Download (1MB) |
Abstract
Penelitian ini bertujuan untuk menguji analisis pengaruh faktor-faltor fundamental (CR, ROI, DER" PBV, TATO), EVA dan MVA terhadap retum saham pada perusahaan manufaktur yang terdaftar di BEI tahun 2010. Pengambilan sampel penelitian ini menggunakan ptrposive sarnpling, sampel sebanyak 28 perusahaan manufaktur yang tadaftar di BEI yang sesuai dengan lriteria tertentu dengm jangka waktu penelitian 2010, data diperoleh dari Indonesian capital Market Directory (ICMD) tahun 2010 dan JSX Statistik tahun 2010. Metode analisis yang digunakan untuk menguji hipotesis penelitian adalah regresi berganda. Permasalahan dari penelitian ini adalah jumlah sampel yalg yang kecil sehingga sulit untuk menggeneralisasikan hasil penelitian, serta pendeknya'masa amatan penelitian yang mengakibatkan hasil penelitiankurang ddqlatmenggarnbarkankondisi yang lebih akurar i !e.'' :'' ,+- Persamaan regresi yang dihasilkan untuk memperoleh hubungan rasio keuangan tersebut dengan retum saham adalah Y : -1296,171 + 108,067CR - 37,951ROI + 2022,828D8R + 7I'292PBV - 19,3I2TATO - 0.004EVA + 0,000MVA + e. Hasil penelitian menunjukkan bahwa beberapa faktor fundamental seperti DER dan PBV serta EVA berpengaruh positif terhadap return saham, sedangkan beberapa faktor fundamilntal- lainnya seperti C& ROI dan TATO serta MVA tidak berpengaruh terhadap refurn saham. : Fafuor-fakor Fundamental, EVA, MVA, Return Saham
Item Type: | Thesis (Diploma) |
---|---|
Subjects: | H Social Sciences > HF Commerce > HF5601 Accounting |
Divisions: | Fakultas Ekonomi > Akuntansi |
Depositing User: | Yth Vebi Dwi Putra |
Date Deposited: | 03 May 2016 04:01 |
Last Modified: | 03 May 2016 04:01 |
URI: | http://scholar.unand.ac.id/id/eprint/6971 |
Actions (login required)
View Item |